次のような高度な表面解析装置を用いて、電子材料や金属・非金属材料の表面の成分分析、局所成分分析、深さ方向成分分布解析ができます。
◆局所分布・・・Ｘ線マイクロ分析(CMA, EPMA)
◆深さ方向成分分布

• グロー放電発光分光分析（GD-OES）
  
• 二次イオン質量分析(SIMS)
  
• オージェ電子分光分析(AES)
  
• Ｘ線光電子分光分析(XPS)
  

次のような装置を用いて、電子材料や金属・非金属材料材料の形態観察と成分分析と結晶構造解析ができます。
◆形態観察・・・・・光学顕微鏡観察
◆形態、結晶構造・・透過型電子顕微鏡解析(TEM-EDS, FE-TEM)
◆形態観察・・高分解能走査電子顕微鏡(FE-SEM,-EDX)解析
◆表面形状観察・・・原子間力顕微鏡解析(AFM)
◆結晶構造・・・・・Ｘ線回折(XRD)　など
◆結晶方位測定
　　　　　・・・Electron Back Scattering Pattern(EBSD,EBSP)
◆微細加工・・・・・収束イオンビーム加工(FIB)
　　　　　・・・・・精密研磨(CMP)

プラスチック、塗料、油といった有機物全てを対象とし、次のような装置を用いて、同定や構造解析が可能です。
◆液体、固体・・・・・赤外分光分析(FT-IR)
◆気体、液体・・・・・ガスクロマトグラフ質量分析(GC/MS)
◆有機構造解析・・・・核磁気共鳴分析(NMR)
◆熱特性・・・・・・・熱分析(TGA, DSC,TMA)
◆成分分析・・・・・・ゲル浸透クロマトグラフ分析(GPC)

微量成分はもとより、あらゆる物質の化学成分分析は解析・分析の基本です。
次のような装置を用いて定性・定量分析ができます。
◆元素定性・定量分析

• 蛍光Ｘ線分析(XRF)、原子吸光分析(AA)
  
• 高周波誘導結合ﾌﾟﾗｽﾞﾏ発光分析(ICP)
  
• クロマトグラフ分析／ガス(GC)、液体(HPLC)、イオン(IC)
  

◆微量成分分析

• グロー放電質量分析(GDMS)
  
• ガスクロマトグラフ質量分析(GC-MS)
  
• 材料加熱時の放出ガス成分分析
  
• 超高温度域の放出ガス成分分析
• ﾌﾞﾛｰﾎｰﾙ、ﾌｸﾚ内部のｶﾞｽ分析（局所ｶﾞｽ分析）
  
• 黒鉛炉原子吸光法（ＡＡＳ）による微量成分分析
• ICP-MSによる超微量成分分析　など